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真空控溫型掃描式探針顯微鏡 atomic force microscope (AFM)

名稱真空控溫型掃描式探針顯微鏡 atomic force microscope (AFM)
用途: 廠牌與型號:SEIKO E-sweep System
 
重要規格:
(1)樣品奈米級表面形貌
(2)樣品表面摩擦力大小分佈圖
(3)量樣品表面磁性分佈圖
(4)測量樣品表面導電性質分佈圖
(5)測量樣品表面Phase分佈圖
(6)測量出樣品表面電位能分佈圖
(7)測量樣品表面穿遂電流分佈圖
(8)以上功能皆可在 -120℃ ~ 300 ℃ 的溫度範圍量測及真空度可到1×10(-6次方)Torr
 
注意事項:
探針一律自行準備,不提供探針的使用
購入日期 0000-00-00
管理者 黃文堯 
放置位置 工EC3024
連絡電話或分機 4438
開放時間:
每周星期一至星期五9:00-17:00 國定假日及周末不開放
 
收費標準:
使用費:本系2623元/hr,本校外系2914元/hr,外校3297元/hr 
操作服務費:本系500元/hr,本校外系500元/hr,外校500元/hr
操作服務費:本系3123元/hr,本校外系3414元/hr,外校3797元/hr
使用費不包含探針
 
僅開放本校光電系自行操作,使用者需經過認證
 
 
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