掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscope (SEM)

財產(設備)(場地)名稱掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscope (SEM)

用途樣品結構觀察

廠牌與型號：Hitachi S-3000H

重要規格：

(1). 加速電壓為0.5~30 KV。

(2). 放大倍率為5~300,000 倍。

(3). 最大試片尺寸為6 吋，150mm 之基材。

(4). 量測可移動範圍為X:80mm，Y:40mm，Z:5~35mm; T:-10~90 degrees; R:360 degrees

購入日期 0000-00-00

管理者洪玉珠

放置位置奈米金屬光學元件實驗室

工EC3019

連絡電話或分機 4471

圖片掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscope (SEM)

價格約282萬

備註開放時間：

每周星期一至星期五9:00-17:00 國定假日及周末不開放

收費標準：

使用費：本系1020元/hr，本校外系1575元/hr，外校2143元/hr

操作服務費：本系300元/hr，本校外系300元/hr，外校350元/hr

僅本校光電系學生開放自行操作（使用者需通過操作認證）

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